為了適應工業生產對于使用X射線類儀器檢測外源性物質及一般性檢測的需求，賽默飛世爾科技發布了Xpert C400，它是賽默飛世爾科技新一代X射線檢測系統系列產品中的第一款，可用于污染物質檢測及產品檢驗。

　　現在市場急需使用X射線檢測外源性物質或進行一般性的檢測。很多主要的食品零售商都被要求在產品上架前必須使用X射線進行檢驗。例如GFSI(全球食品安全倡議)和美國食品安全現代法案都要求在食品檢測中使用X射線技術代替金屬探測法。

　　為了適應這種需求，賽默飛世爾科技公司發布了Xpert C400，其具有極高的靈敏度和高耐受性的特點，滿足了用戶對檢測標準的高要求。與此同時，Xpert C400 還可降低檢測成本。

　　Xpert C400可以非常方便地檢測金屬、玻璃、高密度塑料等包裝材料及包裝食品中的其他污染物。它也可以通過分析X射線圖像估計重量、填充和計數，或確認產品是否在包裝內。該系統的高靈敏度檢測器可以提供多種分辨率(0.8/0.4毫米)，它還有一整套的計算方法來判斷復雜圖像中異常點所代表的污染物。該系統采用低功耗的X射線源(85W)不僅降低了系統的屏蔽需求，而且在檢驗中也很容易穿透一些典型的被檢產品。

　　基于整體系統的設計和組件質量的提升，Xpert C400可以保證一年365天時刻在惡劣環境下進行工作。經過測試，Xpert C400完全符合IP65的防塵防水標準，可在5°C到40°C的溫度范圍內工作。由于其模塊化標準設計,以及內置的遠程支持性能，技術人員可以快速進行故障檢測和維修,減少停機時間。賽默飛世爾將在2011年9月26-28日，在拉斯維加斯會議中心召開的美國國際包裝工業展展會上展出Xpert C400。