11月14日，美國瓦里安公司向外界展示了該公司最新兩款ICP-MS產品??Varian 810-MS和820-MS。瓦里安公司科學儀器部副總裁Martin O’Donoghue先生表示，810-MS和820-MS采用的核心技術是瓦里安公司獲得專利的高效90°離子光學系統和雙離軸（off axis）四極桿，因此810-MS和820-MS具有非常出色的低背景噪音和靈敏度。此外，820-MS還采用了瓦里安公司完美的干擾消除技術??碰撞反應接口（CRI）技術，此項技術目前正在申請專利。該技術的創新特點在于可進行自動調諧，并且可將儀器設置程序化。對于復雜基質樣品中的較難分析元素而言，820-MS可以非常輕易地達到極低的檢出限和更高的定量分析準確度。 當前，環境、地質化學和半導體領域的許多實驗室均傾向于使用帶有干擾消除技術的ICP-MS產品，該技術使得對水、土壤以及化學和生物樣品中的痕量元素（包括As、Fe、Se、Cr、V等）的分析準確度更高。 與瓦里安公司競爭對手們所采用的干擾消除技術不同的是，CRI技術無需使用有腐蝕性的氣體，如：氨氣和甲烷，而且這些氣體往往價格昂貴。CRI采用的是簡單的氦氣，這樣一來既增強了安全性，易于使用，同時降低了儀器的運行成本。另外需要指出的一點是， CRI設計上的獨到之處使其無需額外維護，而傳統的干擾消除系統需要定期停機對其進行清洗和保養。 CRI獨特的設計可以使用戶在兩種模式下運行820-MS??主動CRI模式和非主動CRI模式（兩種模式之間可快速切換），從而大大提高了用戶分析樣品時的靈活性。此外，對于LC-ICP-MS聯用技術而言，全新的ICP-MS產品系列與瓦里安公司的Galaxie軟件完全兼容，可實現實時信號顯示和全色譜數據扣除。