精工電子納米科技有限公司（SII NanoTechnology Inc. ）宣布，其在美國的子公司與Radiant Detector Technologies, LLC達成一項資產收購協議，精工電子納米科技有限公司成功收購Radiant的X射線探測器業務。SII NanoTechnology USA 將獲得Radiant公司與X射線探測器業務相關的所有知識產權、設備以及人力資源。 精工電子納米科技有限公司希望通過此次收購能夠進一步增強在熒光X射線元素分析方面的技術力量，加快新產品開發，增強公司產品在世界范圍內的競爭力，擴展在環境分析市場的銷售份額。1970年，精工電子納米科技有限公司開始涉足熒光X射線涂層測厚領域，在隨后35年的發展歷程中，該公司在熒光X射線分析和測厚方面的全球業務取得了長足的進步，并持有多項技術專利。