NTT日前宣布開發成功了與過去常用的控制光線方向的光度計相比，無論是小型化還是工作速度均提高2位數的高性能分光光度計（光束掃描儀）。除光通信領域外，預計還可應用于影像設備和打印機等領域。 新的光度計使用了一種稱為“KTN”、折射率可根據施加電壓而變化的“電化學結晶”。除該公司2003年開發的KTN結晶穩定生長技術外，向該結晶注入電流后，先前相同的折射率分布將朝著注入方向變化這一性質的發現成就了此次的開發。 利用此性質制作的掃描元件盡管長度只有6mm，但掃描角度超過了10度，而且工作頻率達到約800kHz。與過去使用可動鏡片的光度計相比，體積只有1/100，工作頻率更是高達100倍以上。 利用可動鏡片型掃描元件高速工作的光度計過去就曾利用MEMS和聲化學結晶及電化學結晶等進行開發。但過去的技術在掃描角度和工作頻率之間存在著顧此失彼的關系。因此，難以實現可高速工作、同時又具有大掃描角度的掃描元件。 比如，過去工作速度最快的采用電化學結晶的光度計掃描角度很小，要想得到1度的掃描角度，必須施加+1萬V的高電壓。此次的光度計在相同尺寸和施加電壓條件下與老式電化學結晶型光度計相比，掃描角度達到了80倍。