7月18日，專門用于3D層析成像和納米技術(shù)應(yīng)用的超高分辨率X射線成像系統(tǒng)開發(fā)商Xradia宣布，該公司生產(chǎn)的一臺(tái)硬X射線納米探針儀已運(yùn)往美國阿貢國家實(shí)驗(yàn)室，據(jù)稱，這臺(tái)儀器是Xradia公司與阿貢實(shí)驗(yàn)室納米材料中心（CNM）共同建造的。硬X射線納米探針（NPI）獲得的分辨率超過30nm ，采用掃描探針和全場傳遞X射線顯微鏡，用于元素和物質(zhì)結(jié)構(gòu)分析。這臺(tái)NPI安裝在阿貢APS（Advanced Photon Source）硬X射線納米探針束（ID-26）上。

　　高分辨率X射線顯微鏡在科學(xué)研究及眾多工業(yè)領(lǐng)域的作用越來越重要，這些領(lǐng)域包括替代能源、半導(dǎo)體研制、生物技術(shù)、生命科學(xué)及納米技術(shù)和先進(jìn)材料等。X射線具有的無損穿透性和具有高分辨率顯微鏡功能的X射線光學(xué)儀的結(jié)合，將為研究人員和工程師對物質(zhì)內(nèi)部結(jié)構(gòu)和屬性的認(rèn)識(shí)達(dá)到前所未有的水平。

　　阿貢實(shí)驗(yàn)室納米材料中心主任Eric Isaacs博士稱NPI將對納米材料的設(shè)計(jì)產(chǎn)生革命性的影響。該實(shí)驗(yàn)室首席研究員Jorg Maser也對Xradia公司建造這種裝備的能力表示了贊譽(yù)。