專注于提高人類健康及其生存環境安全的全球領先公司 PerkinElmer, Inc.，今天宣布將在 PITTCON(R) 2010 展會（2010 年 3 月 1 日至 4 日，2769 號展臺）上推出用于元素分析的 NexION(TM) 300 型電感耦合等離子體質譜儀 (ICP-MS)。
　　“NexION 300 平臺具有痕量元素分析能力，在全世界都在應對空氣、水和食物的污染，藥物與營養滋補品的可靠性，以及新興的納米材料的安全性等諸多問題的形勢下，這種產品的推出可謂恰逢其時。”PerkinElmer 光譜業務部、分析科學與實驗室服務部副總裁 Martin Long 介紹說。

　　他補充道：“現在，研究人員將能夠使用簡化的系統來執行萬億分之一級別的痕量元素分析，而即使非專家級用戶也能夠使用該系統進行復雜的分析。這款新型的 NexION 300 系統還可大大減少日常維護和清潔工作，縮短停機時間，并且降低對操作人員的技術要求。”

　　NexION 300 型儀器具有獲得專利的 Universal Cell Technology(TM) (UCT) 技術，是同類產品中唯一可使用“標準”、“碰撞”與“反應”三種干擾消除模式的儀器。利用這三種模式，科學家們可根據待解決問題的復雜程度，針對具體應用選擇合適的技術。

　　NexION 的“標準”模式可用于簡單和常規分析。“碰撞”模式則適合處理半定量分析、環境樣品監測以及未知樣品檢測等工作。“反應”模式使用了獲得專利的 DRC(TM) 技術，即使對于最難以檢測的元素和基質(例如半導體測試)也可獲得最佳的檢出限，

　　NexION 300 系統可以與色譜系統配合進行高效的形態分析，使用戶能夠準確分離相關元素并測定元素的毒性、生物利用率、代謝和環境遷移性。

　　有關 PerkinElmer 原子光譜解決方案的詳細信息，請訪問 www.perkinelmer.com/nexion300