美國橡樹山國家實驗室的科研人員最近成功刷新了一項電子顯微鏡的觀測記錄。這種新型電子顯微鏡的功率為300千瓦，能夠分辨出直徑為0.6埃(光譜線波長單位，等于一厘米的百萬分之一)的微小粒子－－足以讓科學家們看到單個的原子。借助它的幫助，物理學家們成功地獲得了硅晶體中的單個原子圖像。 　　研究人員介紹稱，新型顯微鏡能夠極大地改善半導體領域的研究條件，推動新材料的開發工作。據悉，取得這一重要成果的主要秘密在于一項新開發出的計算機成像技術，它能夠最大限度地挖掘高倍數電子顯微鏡的潛能。 　　這一新方法被暫時稱作偏差修正技術。借助這一技術，計算機能夠及時地對電子顯微鏡的透鏡所產生的誤差進行修正，從而保障獲得質量更高的物質內部結構圖像。研究人員因此也突破了先前的觀測極限，獲取了前所未有的高清晰度原子圖像。 　　橡樹山實驗室的工作人員表示，獲取單個原子的三維立體圖像將是他們的下一個目標。