HORIBA Jobin Yvon發布最新一款用于納米材料表征的拉曼/光致發光顯微鏡 (2006-01-27)
發布時間:2007-12-04
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來源:儀器信息網
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1月23日,HORIBA Jobin Yvon向外界發布了該公司最新一款LabRAM型拉曼/光致發光顯微鏡,這款臺式系統是專為納米材料的分子表征而度身打造的。
典型的納米材料,諸如:碳納米管(CNT)、氮化硼、自組裝膜(SAM)以及LB膜、聚合物和半導體等,通常是采用拉曼顯微鏡對它們的組成及純度、碳納米管的手性特征和內徑、應力/張力、結晶度、同質性等進行分析的。然而,許多納米材料的光致發光特性對于研究它們的電子結構同樣是非常重要的。現在LabRAM實現了在一臺系統上即可同時對一份樣品進行拉曼和光致發光分析。
該系統的光致發光光源具有極寬的波長范圍,因此LabRAM配置了一個高性能的雙檢測系統,可檢測波長從200 nm~2.2 ìm。無論是對于檢測信號在紫外/可見藍光區的氮化硼,還是在近紅外區的CNT和半導體,LabRAM都保持了一個很高的光通量和靈敏度。
而在進行拉曼分析的時候,系統的激光光源的波長可從紫外一直到紅外,同樣為分析人員提供了一個很寬的可供選擇的波長范圍,從而保證了拉曼分析在散射效率、目標尺寸、穿透深度、共振效應以及消除熒光干擾等方面的最優化,使得分析人員在盡可能短的時間內得到盡可能多的有用信息。
此外,LabRAM無與倫比的亞微米空間分辨率,使得該系統可快速、方便地獲得樣品的多相性、化學分布、應力/張力變化等方面的拉曼/光致發光圖象數據。而系統的毫微級三維定位系統則保證了樣品任何一絲特性在分析時均不會被遺漏。