澳大利亞聯邦科學與工業研究組織（CSIRO）的研究人員們研制成功一種新型X射線顯微鏡，它能夠對不透明或多層結構的物體內部進行高分辨率成像。 以前X射線技術不能在微米水平上進行高分辨率成像，尤其是對X射線吸收率非常小的物體。最近，CSIRO的科學家們利用高性能X射線顯微鏡和多種X射線相差成像技術，可以直接對不透明或多層機構物體內部成像。 斷層X射線掃描成像技術是通過在不同角度成像進而重建出物體的三維結構的技術，它可以轉動或者對多層結構進行非常細微的成像。 CSIRO與XRT公司合作開發的這些X射線設備與方法還在不斷完善中，他們想要把這種技術用于工業上的早期損傷探測上去。X射線超倍顯微鏡可以把不透明或多層結構物體的內部結構成像分辨率提高到亞微米水平，達到50納米。而商業應用的X射線微聚焦源的分辨率只能達到1微米左右。 這種新型X射線成像方法可以應用于材料科學、空間技術、生命科學、食品檢測、微電子學和地質學。它還能應用于生物技術，以及下一代能源產品中的微電子器件與材料。