全球領先的半導體測試公司惠瑞捷半導體科技 (NASDAQ: VRGY) 今日宣布將可編程接口矩陣應用于Verigy V5000e 工程工作站，以幫助存儲器制造商在應用V5000e進行工程，測試開發和調試時獲得并行測試能力。憑借該矩陣，V5000e 可以并行測試12顆芯片（DUT），減少產線上的操作人員的時間，同時大幅度提高了總產能。此矩陣還將V5000e的引腳數量從128提高到768個測試器資源引腳，從而能夠測量具有更高引腳數量的多種類型存儲器芯片，包括NOR、NAND、DRAM、SRAM以及 MCP。

      由于產品壽命周期不斷縮短，制造商需要將測試開發時間降至最低。同時，各種存儲器芯片在測試平臺上有了更多的融合。為了應對測試所有這些類型芯片所面臨的挑戰，制造商需要面向工程開發的測試系統具有并行能力和靈活性。然而，在工程開發的環境下，如果使用成熟的面向大規模生產的測試系統既不能節省成本，通常也不符合實際。配備了矩陣的V5000e 就可以應對這些挑戰，降低測試開發時間。

      惠瑞捷存儲測試解決方案部門副總裁兼總經理Gayn Erickson說：“對于那些正在尋找一套測試開發系統的存儲器制造廠商而言，以前最佳的選擇就是花費數百萬另建一套最終測試系統。然而借助于該矩陣，V5000e的用戶可以在測試開發和調試的環境下使用這些功能。”

      此矩陣最初的設計目的是為了在最終產品測試階段降低測試成本，到目前為止，此矩陣僅配備在Verigy V5500 最終測試系統上。惠瑞捷開發出應用于V5000e的新版本的矩陣，以滿足在測試開發設置方面對強大且靈活的解決方案日益增長的需求，這些解決方案可以處理多種存儲器類型，包括NOR、NAND、DRAM、SRAM以及 MCP。

     V5000e于2005年開始供貨，作為領先的工程工作站，用于測試所有的存儲器類型，它具備可升級的平臺構架，擁有辦公環境設計，以及工程開發所必需的強大功能和靈活性。