首屈一指的半導體測試公司惠瑞捷半導體科技有限公司（Verigy Ltd.）的V93000 SoC測試機臺推出Port Scale射頻（RF）測試解決方案。這套新的解決方案可提供經濟、有效又可靠的射頻量測能力，是測試新式的高集成度組件（內含射頻、混合信號、數字、電源管理、以及嵌入式或堆疊式內存等電路），以及低集成度射頻收發器所不可或缺的工具。惠瑞捷針對V93000 SoC測試系統開發Port Scale射頻測試解決方案是為了解決無晶圓廠半導體設計公司、整合組件制造商、以及半導體委外封裝及測試公司目前和未來的需求。

      惠瑞捷半導體科技有限公司業務與服務支持副總裁Pascal Ronde表示：“為了生產今日新一代移動通訊用消費性電子產品中使用到的新式高整合度組件，我們的客戶面臨了極大的挑戰。V93000機臺的架構不僅可以讓我們加入這項射頻測試能力，而且還能達到非凡的速度，同時依然維持最低的測試成本。”

      今天，射頻的應用已十分普遍，從移動電話到衛星導航設備、調頻器（Tuner）和機頂盒（Set-top Box）等各式各樣的無線裝置和通訊應用都會用到射頻組件。另外，支持WiMAX、WLAN、Bluetooth及UWB等標準的桌上型及筆記型計算機也會用到含有射頻電路的組件。過去，射頻組件都是一個個單獨的零件，現在，將多個射頻零件整合在單一顆IC中已越來越常見。同樣地，諸如行動電話等裝置的設計需符合多個地區采用的標準，如GSM/CDMA、CDMA2000、EDGE和EV-DO，因此，過去只要包含一組接收器的設計現在經常得包含多達四組或更多組射頻收發器。當這些不同的射頻通訊標準全部整合在單一個射頻電路中時，會大幅提高測試的挑戰性。惠瑞捷預先看到了這種新的測試需求，了解客戶不論面對的是高整合度或低整合度的射頻組件，都希望盡可能維持最低的測試成本（COT），因而著手開發出Port Scale射頻測試解決方案。

可提供最快速度的架構

     Port Scale射頻測試解決方案的設計采用固態半導體組件，因此所有的射頻資源都集中在V93000的測試頭中。不同于其它采用速度慢的外接設備的解決方案，Port Scale是以高速的固態半導體組件為基礎所設計的射頻測試解決方案，完全不會減損速度、性能或量測準確度。

      這套解決方案可以配置12、24或48個射頻測端口，只要配備了24個射頻測試端口，即可提供真正四點同測（Quad-site）的能力，而其高效率的多點（Multi-site）并行測試能力也解決了高整合度組件需要更多測試端口的測試問題，具有最高的測試效率，可將測試成本降到最低。Port Scale射頻測試解決方案具備的高性能、準確又穩定的量測能力、以及業界最低的噪聲底線（低至-161 dBm/Hz）可滿足越來越嚴苛的性能、良率及成本要求。

加快上市時間

      Port Scale射頻測試解決方案可提供完全整合的模擬和射頻測試能力與測試流程，以及可逐步進行的調試工具，能縮短測試開發時間。惠瑞捷新增了快速又準確的“單鍵” 執行功能，可進行智能型校準，并且采用功能強大的Eclipse?軟件環境，可以檢視動作中的硬件運作情形，讓使用者透過簡單明了的圖形，查看射頻量測模塊圖，并可將射頻測試設定輸出為測試方法的樣版。采用固態半導體組件的射頻設計加上V93000獨特的水冷式架構在大部分開發階段的測試計劃中，都不需要進行校準。

先進的硬件讓性能更上一層樓

      可插入惠瑞捷V93000測試頭使用的單槽模塊卡每平方公分包含的功能居業界之冠，有助于縮小測試系統的體積和降低成本。Port Scale射頻測試解決方案包含下列模塊卡及套件：
? 射頻信號源模塊卡 － 10 MHz-6 GHz的儀器等級（Instrument-quality）信號產生器；
? 射頻前端模塊卡 － 每一片可提供12個射頻測試埠；
? 射頻接口 － 可提供高密度、穩定可靠的射頻接口，以介接到客戶的測試載板（Load Board）和探針卡（Probe Card）；
? MB AV8模塊卡 － 提供四組任意波形產生器（AWG）核心以及四組數字轉換器（Digitizer）核心；
? 48個端口的射頻校準套件 － 一組套件最多可支持十套射頻系統）。

詳細信息可查詢www.verigy.com/go/PortScaleRF網站。