近日宣布，公司最近推出的檢測創新在四月份的兩項重要會展中贏得幾項工業獎。

      在Nepcon Shanghai 2008上，Agilent Medalist x6000自動X射線檢測解決方案贏得SMT China雜志頒發給檢測（AXI門類）的第二屆SMT China遠見獎。今年早些時候，Medalist x6000也榮獲Test and Measurement World 雜志2008 年最佳測試獎的榮譽獎

     作為Medalist VTEP v2.0 供電無矢量測試套件組成部分的Agilent網絡參數測量技術，也在Nepcon Shanghai 2008上贏得測試系統?設備門類中的電子制造（EM）亞洲創新獎。

      Agilent 公司的覆蓋擴展技術是VTEP V2.0供電套件中最新增添的有限接入解決方案，在拉斯維加斯的APEX展會上被選定為 IPC創新技術中心獎的勝出者。

      行業主導出版物和組織把這些獎項授予市場上最富創新的技術、應用、產品和服務。

      Agilent 測量系統部營銷總監NK Chari表示：“對業界認可我們在檢測領域的創新，我們深感榮幸，我們要通過不斷創新推出最完整的成套檢測解決方案，以幫助制造商應對技術和商務的挑戰。”