安捷倫科技公司（NYSE: A）日前推出適用于 PNA-X 系列微波網絡分析儀的選件028。這款新選件可對高達 50 GHz 的放大器、變頻器和混頻器進行高精度的信號源校正噪聲系數測量。

      配備選件 028 的 PNA-X是業界唯一能夠校正由非理想系統源匹配引起誤差的網絡分析儀。它使用矢量誤差校正來消除失配誤差，并通過由阻抗調諧器構成的ECal模塊來消除由噪聲參數引起的誤差。如此先進的校準方法使 PNA-X 能夠提供業界最高的噪聲系數測量精度，這在晶圓上、夾具內和自動測試環境中效果尤為突出。

      測量精度對于設計和測試放大器、轉換器，特別是低噪聲放大器的工程師來說尤為重要。在研發過程中，高測量精度可以更好地優化發射/接收系統以及實現電路仿真和測量之間的關聯；在制造過程中，高測量精度意味著只需較小的保護頻帶即可實現更佳的元器件技術指標，從而生產出更具競爭力的產品。

      安捷倫選件 028 采用 PNA-X 的標準 S 參數接收機和安捷倫獨有的信號源校正技術，可執行高達 50 GHz 的噪聲系數測量。若測量 30 dB 以下極低噪聲的器件，則需要使用外部前置放大器和濾波器。若進行高達 26.5 GHz 的噪聲系數測量，則需要使用額外的選件（選件 H29），以便為 50 GHz PNA-X 提供內部低噪聲接收機。選件 H29 省去了使用外部前置放大器和濾波器的麻煩，同時使設置如同 S 參數測量一樣輕松。

      安捷倫副總裁兼元器件測試事業部總經理 Gregg Peters 表示：“新選件 028 的推出，讓安捷倫廣泛的噪聲系數測量解決方案進一步擴大，以優異的性價比滿足客戶的預算和測量需求。”“選件 028 具有出色的精度，而 PNA-X 能夠通過單次連接進行多次測量，這些優點將幫助工程師提高測試吞吐量并減少所使用儀器的數量，有助于構建更簡便、更經濟高效的測試系統。”

      PNA-X 提供業界最廣泛的測量應用軟件，可測量從射頻至毫米波的各種信號，工程師只需在它與被測件之間進行一次連接，便可靈活地進行各種測量，例如 S 參數、增益壓縮、互調失真和噪聲系數測量。通常，完成上述測量任務需要使用多種測試儀器，包括頻譜分析儀、兩個或三個信號發生器、配備下變頻器的噪聲系數分析儀以及矢量網絡分析儀。現在，PNA-X 進行噪聲系數測量的速度通常比普通噪聲系數分析儀快 4 至 10 倍。與由多種儀器構成的傳統系統相比，PNA-X 除了能夠執行更廣泛的測量，還將總體測量吞吐量提高了 100 倍。

更多信息，請訪問：
ο 安捷倫噪聲系數測量和解決方案；
ο 安捷倫新型 PNA-X 系列微波網絡分析儀手冊；
ο 網絡研討會錄像：需要進行噪聲測量？新的噪聲系數測量技術為您提供無與倫比的測試精度。

如欲查看這款新型噪聲系數測量選件的圖片，請訪問 www.agilent.com/find/PNA-X_Opt028_images。

如欲了解安捷倫公司在先進射頻和微波技術研發和制造領域的最新設計和測試創新，請光臨 2010 年 IEEE MTT-S 國際微波會議。該會議將于 2010 年 5月 25 日 至 27 日在美國加州阿納海姆會展中心舉行，安捷倫的展位設在第 924 號展臺。