近日，由中國科學技術大學與我院共同完成的“掃描探針顯微鏡漂移測量方法與標準化”課題，榮獲2014年中國分析測試協會科學技術獎（CAIA獎）。

      CAIA獎是分析測試領域唯一的社會力量設獎，獲獎成果反映了國內分析測試領域的最高水平，對加強分析測試領域和相關學科的基礎性和應用性研究、提升我國分析測試與科研探索的創新能力和學術水平做出了重要貢獻。

      “掃描探針顯微鏡漂移測量方法與標準化”研究定義了描述SPM在X、Y和Z方向的漂移速率的專業術語，規定了SPM漂移速率的測量方法和測量程序，不僅為基于SPM測量圖像的漂移速率提供了標準的評價方法，也對其它納米級測量儀器穩定性的評價也有著重要參考價值。