近日，由中國(guó)科學(xué)技術(shù)大學(xué)與我院共同完成的“掃描探針顯微鏡漂移測(cè)量方法與標(biāo)準(zhǔn)化”課題，榮獲2014年中國(guó)分析測(cè)試協(xié)會(huì)科學(xué)技術(shù)獎(jiǎng)（CAIA獎(jiǎng)）。

      CAIA獎(jiǎng)是分析測(cè)試領(lǐng)域唯一的社會(huì)力量設(shè)獎(jiǎng)，獲獎(jiǎng)成果反映了國(guó)內(nèi)分析測(cè)試領(lǐng)域的最高水平，對(duì)加強(qiáng)分析測(cè)試領(lǐng)域和相關(guān)學(xué)科的基礎(chǔ)性和應(yīng)用性研究、提升我國(guó)分析測(cè)試與科研探索的創(chuàng)新能力和學(xué)術(shù)水平做出了重要貢獻(xiàn)。

      “掃描探針顯微鏡漂移測(cè)量方法與標(biāo)準(zhǔn)化”研究定義了描述SPM在X、Y和Z方向的漂移速率的專業(yè)術(shù)語(yǔ)，規(guī)定了SPM漂移速率的測(cè)量方法和測(cè)量程序，不僅為基于SPM測(cè)量圖像的漂移速率提供了標(biāo)準(zhǔn)的評(píng)價(jià)方法，也對(duì)其它納米級(jí)測(cè)量?jī)x器穩(wěn)定性的評(píng)價(jià)也有著重要參考價(jià)值。