10月22日-23日，由中國計量測試學會、全國顯示產(chǎn)業(yè)計量測試聯(lián)盟聯(lián)合主辦，中國計量科學研究院承辦，國家平板顯示產(chǎn)業(yè)計量測試中心(廈門、蘇州)、華東電子測量儀器研究所光電計量校準中心協(xié)辦的“第四屆國際顯示產(chǎn)業(yè)計量測試高峰論壇暨中國計量測試學會2019年全國顯示產(chǎn)業(yè)計量測試聯(lián)盟”順利在京召開。來自國內(nèi)外顯示相關(guān)的計量技術(shù)機構(gòu)、高校、科研院所及生產(chǎn)企業(yè)、知名儀器設(shè)備廠家的近200位代表參加了此次高峰論壇。

論壇由全國顯示產(chǎn)業(yè)計量測試聯(lián)盟陳赤秘書長主持，中國計量測試學會蒲長城理事長、國家市場監(jiān)督管理總局杜躍軍副司長、中國工程院許祖彥院士、譚久彬院士、李天初院士、中國計量科學研究院滕俊恒副院長等領(lǐng)導和專家出席。中國計量測試學會蒲長城理事長在致辭中指出顯示產(chǎn)業(yè)發(fā)展需同仁攜手打造開放共享的產(chǎn)學研用多維度合作平臺和產(chǎn)業(yè)協(xié)同創(chuàng)新共同體，激發(fā)顯示產(chǎn)業(yè)創(chuàng)新活力。

本次論壇以“顯乎其微，示乎其大”為主題，圍繞顯示企業(yè)創(chuàng)新與轉(zhuǎn)型、產(chǎn)學研用深度融合和顯示產(chǎn)業(yè)前瞻技術(shù)和未來發(fā)展趨勢展開百家爭鳴。譚久彬院士做了“新一代國家測量體系與制造質(zhì)量提升”的大會特邀報告;近三十位來自國內(nèi)外的顯示專家學者和產(chǎn)業(yè)代表就顯示標準、新型顯示器件領(lǐng)域關(guān)鍵參數(shù)測試方法、顯示與視覺、醫(yī)療健康和芯片等交叉融合等分別做了主題報告。同時各專家學者就Mura算法與DeMura等應(yīng)用進行了專題高峰圓桌對話，深入交流和探討了Mura算法與Demura技術(shù)發(fā)展。論壇還發(fā)布了“手機、顯示屏關(guān)鍵參數(shù)測試評價方案及評價結(jié)果”，對消費者如何科學使用顯示產(chǎn)品、減小顯示屏藍光危害有重要指導意義。

本次論壇得到了各界的廣泛關(guān)注和支持。同期，全國顯示產(chǎn)業(yè)計量測試聯(lián)盟舉行了院士等專家顧問受聘儀式;舉辦了“第四屆顯示產(chǎn)業(yè)計量與檢測設(shè)備精品展”，顯示相關(guān)企事業(yè)單位進行了黑科技新產(chǎn)品和新技術(shù)展示，是顯示行業(yè)思想碰撞和視覺體驗的盛宴。

本次論壇為國內(nèi)外顯示相關(guān)產(chǎn)業(yè)搭建了良好的合作交流平臺，有利于促進顯示產(chǎn)業(yè)高質(zhì)量發(fā)展。據(jù)悉，全國顯示產(chǎn)業(yè)計量測試聯(lián)盟已發(fā)展為由來自顯示企業(yè)、高校、科研院所、計量機構(gòu)、設(shè)備廠商等產(chǎn)業(yè)內(nèi)80多家單位組成的產(chǎn)業(yè)協(xié)同創(chuàng)新共同體。