由中國上海測試中心、上海市計量測試技術研究院、上海市分析測試協會共同舉辦的“2005年上海地區分析測試技術研討會”定于2005年3月15日（星期二）在上海市計量 測試技術研究院二樓學術報告大廳舉行。 中國科學院博士生導師、中國分析儀器學會副理事長、中國光學儀器學會副主任、中國國家質量技術監督局國家級計量認證評審員、《光學儀器》副主編、《生命科學儀器》副主編：李 昌 厚 教授主講。同時還有中科院其他分析儀器專家到場與大家交流。 日 程 安 排 1. 國內、國外原子吸收分光光度計的應用和最新進展 2. 原吸主要技術指標的物理意義、重要性、測試方法 3. 如何評價（挑選）原子吸收分光光度計 4. 如何用好原子吸收分光光度計的幾個關鍵問題 李昌厚教授 5. 普析通用公司產品介紹 6. 國內、國外紫外分光光度計的應用和最新進展 7. 紫外主要技術指標的物理意義、重要性、測試方法 8. 如何評價（挑選）紫外可見分光光度計 9. 如何用好紫外可見分光光度計的幾個關鍵問題 10.其 他 分 析 儀 器 技 術 交 流 本次技術講座不收任何費用 聯系人：丁軼帥 韓春 陳蓓芬 單位：北京普析通用公司上海辦事處 地址：上海市漕溪北路737弄1號樓2501室 郵編：200030 電話：021-64681026- 129/131, 13701975201 傳真：64684506