7月8日，2025年度國家科學(xué)技術(shù)獎勵大會在京召開。其中，中國計量科學(xué)研究院（以下簡稱“中國計量院”）參與完成的兩項成果分別榮獲國家科技進步一等獎和二等獎。

由同濟大學(xué)牽頭、中國計量院作為第三完成單位等合作完成的“量子化光晶格常數(shù)的納米計量關(guān)鍵技術(shù)及集成電路應(yīng)用”項目榮獲國家科技進步一等獎。項目面向先進納米制造產(chǎn)業(yè)計量需求，在國際單位制量子化變革背景下，提出了量子化光晶格納米計量技術(shù)，將“米”定義融入納米尺度標準物質(zhì)制造和嵌入應(yīng)用全過程，研制并獲批多項國家一級標準物質(zhì)，實現(xiàn)量值傳遞扁平化。中國計量院在納米幾何國家標準物質(zhì)計量定值與溯源關(guān)鍵技術(shù)、量子光柵精密制造中激光穩(wěn)頻控制與評價關(guān)鍵技術(shù)中均作出關(guān)鍵貢獻，為我國納米制造領(lǐng)域提供了校準與標定用的“精準標尺”。

一維納米柵格國家一級標準物質(zhì)

激光衍射法精密光柵線間距測量

由哈爾濱工業(yè)大學(xué)牽頭，中國計量院作為第二完成單位等合作完成的“區(qū)域法表界面微觀幾何結(jié)構(gòu)國家計量體系創(chuàng)建及應(yīng)用”項目榮獲國家科技進步二等獎。項目創(chuàng)建了區(qū)域法表界面微觀幾何結(jié)構(gòu)國家計量體系，在國際上率先實現(xiàn)了由輪廓法到區(qū)域法、由表面到表界面的體系性變革，建成了全球首套表界面微觀形貌缺陷測量“三維標尺”，制定了相關(guān)國際標準，成功應(yīng)用于國家重大工程及重點任務(wù)。中國計量院為區(qū)域法表界面國家計量體系創(chuàng)建與關(guān)鍵量值溯源作出關(guān)鍵貢獻，所建立的計量基準裝置具有表面和亞表面區(qū)域一體化計量能力，實現(xiàn)了表界面關(guān)鍵量值到“米”定義的直接溯源，對國際標準的制定發(fā)揮了支撐作用，使我國在表界面計量領(lǐng)域完成了從“跟跑”到“領(lǐng)跑”的歷史性跨越。

區(qū)域法表面與亞表面結(jié)構(gòu)幾何參數(shù)基準裝置

近年來，中國計量院圍繞國家現(xiàn)代化產(chǎn)業(yè)體系總體布局，緊扣國家科技創(chuàng)新與產(chǎn)業(yè)升級重大需求，依托國家重點研發(fā)計劃、國家自然科學(xué)基金等重大科技項目，攻克了精密制造領(lǐng)域一系列高端計量測試難題，構(gòu)建全鏈條自主可控的計量能力體系，服務(wù)國家戰(zhàn)略，持續(xù)筑牢科技與產(chǎn)業(yè)發(fā)展底座。（文：施玉書、王建波  圖：黃鷺）