12月1日，精工電子納米科技有限公司（SII NanoTechnology Inc. ）宣布，其在美國的子公司SII NanoTechnology USA Inc.與Radiant Detector Technologies, LLC在10月14日達成一項資產收購協議，精工電子納米科技有限公司成功收購Radiant的X射線探測器業務。SII NanoTechnology USA 將獲得Radiant公司與X射線探測器業務相關的所有知識產權、設備以及人力資源。收購后的X射線探測器業務已于11月1日正式重新啟動。 精工電子納米科技有限公司希望通過此次收購能夠進一步增強在熒光X射線元素分析方面的技術力量，加快新產品開發，增強公司產品在世界范圍內的競爭力，擴展在環境分析市場的銷售份額。1970年，精工電子納米科技有限公司開始涉足熒光X射線涂層測厚領域，在隨后35年的發展歷程中，該公司在熒光X射線分析和測厚方面的全球業務取得了長足的進步，并持有多項技術專利。 Radiant公司則成立于2001年，總部位于加利福尼亞州北嶺市，創始人為Jan.S.Iwanczyk博士和Bradley E.Patt博士。公司主要專注于硅質多陰極漂移型X射線探測器的開發，生產和銷售。產品以大尺寸，高計數率，出色的能量分辨率以及運行過程無需液氮而著稱。